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Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): Determinação da espessura e composição química de filmes finos
- Autor: Valdirene de Oliveira Scapin
- Categoria: Teses e Dissertações
- Idioma: Português
- Fonte: Programas de Pós-graduação da CAPES
- Instituição/Programa: USP/TECNOLOGIA NUCLEAR
- Área Conhecimento: ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALÚRGICA
- Nível: Doutorado
- Ano da Tese: 2004
RESUMO
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