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Estudo comparativo do comportamento da corrente de fuga em transistor SOI MOSFET convencional e de porta dupla operando em altas temperaturas
- Autor: Alfonso Braz Gutierrez
- Categoria: Teses e Dissertações
- Idioma: Português
- Fonte: Programas de Pós-graduação da CAPES
- Instituição/Programa: FEI/ENGENHARIA ELÉTRICA
- Área Conhecimento: ENGENHARIA ELÉTRICA
- Nível: Mestrado
- Ano da Tese: 2008
RESUMO
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