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Análise por microscopia eletrônica de varredura da "Smear Layer" produzida em preparos com pontas diamantadas e pontas cvd
- Autor: Mario Tavares Moreira Junior
- Categoria: Teses e Dissertações
- Idioma: Português
- Fonte: Programas de Pós-graduação da CAPES
- Instituição/Programa: UFPA/ODONTOLOGIA
- Área Conhecimento: ODONTOLOGIA
- Nível: Mestrado
- Ano da Tese: 2008
RESUMO
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